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反射膜厚儀
反射膜厚儀是一種非接觸式、快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量技術(shù)。
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反射膜厚儀
MProbe Vis薄膜測(cè)厚儀對(duì)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
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反射膜厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
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反射膜厚儀
MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
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反射膜厚儀
采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域
