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反射膜厚儀

更新時(shí)間:2020-08-12

產(chǎn)品品牌:Semiconsoft

產(chǎn)品型號(hào):MProbe NIR

產(chǎn)品描述:采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域

產(chǎn)品概述

采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,比如在可見(jiàn)光范圍內(nèi)有吸收的太陽(yáng)能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測(cè)量。

測(cè)量范圍: 100 nm -200um

波長(zhǎng)范圍: 900 nm -2500 nm

適用于實(shí)時(shí)在線(xiàn)測(cè)量,多層測(cè)量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)(超過(guò)500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

測(cè)量指標(biāo):薄膜厚度,光學(xué)常數(shù)

界面友好: 一鍵式測(cè)量和分析。

實(shí)用的工具:曲線(xiàn)擬合和靈敏度分析,背景和變形校正,連接層和材料,多樣品測(cè)量,動(dòng)態(tài)測(cè)量和產(chǎn)線(xiàn)批量處理。

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