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元素分析
表面分析
太陽能/半導(dǎo)體
通用儀器耗材及檢測服務(wù)
反射膜厚儀是一種非接觸式、快速的光學(xué)薄膜厚度測量技術(shù)。
MProbe Vis薄膜測厚儀對大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域
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