反射膜厚儀
MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。
反射膜厚儀
采用近紅外光譜(NIR)的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域
光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)
光學(xué)輪廓儀系統(tǒng)適用于科研和生產(chǎn)的高質(zhì)量表面測(cè)量手段ContourGT-I3D光學(xué)顯微鏡將三.....
三維表面測(cè)量系統(tǒng)
布魯克NPFLEX 三維表面測(cè)量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測(cè)量提供了靈活的非接觸式的方案，超過(guò).....
掃描探針顯微鏡
同類(lèi)AFM中具有很低的噪音水平和很高的分辨率Innova掃描探針顯微鏡（SPM）
Hysitron 納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
Hysitron TI Premier 納米力學(xué)測(cè)試儀器在緊湊平臺(tái)中提供了定量納米力學(xué)表征.....
電話：86-021-37018108
傳真：86-021-57656381
郵箱：info@boyuesh.com
地址：上海市松江區(qū)莘磚公路518號(hào)松江高科技園區(qū)28幢301室
