分析快速，結果準確使得Bruker便攜式X射線熒光光譜儀成為汽車行業(yè)材料分析、成品和生產(chǎn)過程零部件質(zhì)量管控的理想選擇。

Imilac隕石通過布魯克微區(qū)X射線熒光M4 TORNADO分析，我們可以看到元素分布以及礦物分布。Kamacite（Fe，Ni）：Kamacite是一種主要由鐵和鎳組成的金屬合金。

Bruker微區(qū)X射線熒光成像光譜儀M4 Tornado可以針對鋰電池生產(chǎn)?的各個工序和正極材料的金屬異物進行大面積，無損，非接觸式的快速掃描，鎖定金屬異物，并對異物進行歸類統(tǒng)計分析，及時排查問題，從而提高良品率，減少安全隱患，防患于未“燃”。

微區(qū)XRF在諸如月壤等珍貴地質(zhì)樣品的成分分析中，其強大的面掃描功能能夠在無損、樣品無制備的情況下，快速獲得顆粒樣品中各元素的分布情況并且能夠給出準確可靠的定量、半定量結果， 為樣品后續(xù)的分析奠定重要基礎。

白光干涉儀的作用，可以進行膜厚測量，溝槽測量，翹曲分析，表面粗糙度測量，表面高度及盲孔測量，樣品表面圖案尺寸測量等。廣泛應用于半導體，光學器件，太陽能電池，MEMS，生命科學，材料學等行業(yè)。

Conductive AFM (cAFM) — 導電原子力顯微鏡（CAFM）是一種源自接觸AFM的二次成像模式，它表征了中到低導電和半導體材料的導電率變化。CAFM的電流范圍為pA至μA。