更新時間:2023-11-10
產(chǎn)品品牌:布魯克/Bruker
產(chǎn)品型號:Dimension Icon
原子力顯微鏡Dimension
Icon
性能優(yōu)異、具備智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大樣品臺的原子力顯微鏡
Bruker
Dimension? Icon? 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應(yīng)用體驗,具有更高水平的性能,多種不同功能和配件選擇,測試功能強(qiáng)大,操作簡便易行。
通過齊集Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗、廣大客戶反饋、結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求, Dimension Icon進(jìn)行了全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計,實現(xiàn)了更高水準(zhǔn)的低漂移和低噪音水平。現(xiàn)在,用戶只需要幾分鐘就可獲取真實準(zhǔn)確的掃描圖像。
優(yōu)異性能
· 獨(dú)特的傳感器設(shè)計,在閉環(huán)條件下,也能實現(xiàn)開環(huán)噪聲級別的大樣品高分辨率掃描成像。
· 進(jìn)一步有效的降低了噪聲水平,接觸模式下可獲得原子級圖像,在輕敲模式下低于 30pm
· 熱漂移速率低千200pm/ 分鐘,獲得真正的無曲圖像
快速、高效的檢測效率
· XYZ閉環(huán)掃描器的新型設(shè)計,使儀器在較高掃描速度工作時,也會不降低圖像質(zhì)量,并有更好的數(shù)據(jù)采集效率。
· 參數(shù)預(yù)設(shè)置中融入了多年的研發(fā)經(jīng)驗,新的NanoS cope? 軟件帶有默認(rèn)的實驗?zāi)J?。
· 高分辨率相機(jī)和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置
強(qiáng)大的多功能性
· 針尖和樣品之間具有開放式空間,不僅可以進(jìn)行各種標(biāo)準(zhǔn)實驗,也可以自行設(shè)計實驗方案,能夠滿足不同研究工作的需求
· 在硬件和軟件技術(shù)方面的不斷創(chuàng)新,新開發(fā)的HarmoniX模式,可以測量納米尺度上材料性質(zhì)
· 用戶可通過使用程序腳本進(jìn)行半自動測量和數(shù)據(jù)分析
產(chǎn)品特色
高性能和高分辨率
Dimension? Icon?是布魯克在針尖掃描技術(shù)上的一項革新技術(shù),具有卓越的分辨率,與Bruker獨(dú)特的電子掃描算法相結(jié)合,顯著提升了測量速度與質(zhì)量。
系統(tǒng)配置溫度補(bǔ)償位置傳感器,實現(xiàn)了 Z 軸亞埃級和 XY 軸埃級的低噪音水平,將這個性能應(yīng)用在 90 微米掃描范圍、大樣品臺系統(tǒng)上,效果甚至超過大部分高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ 閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計使儀器在較高掃描速度工作時,圖像質(zhì)量也不會被損壞,實現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。
配置了Bruker的PeakForce?技術(shù),Dimension Icon可實現(xiàn)智能獲取高分辨圖像。
接觸模式獲得的云母原子圖像,掃描速度0.6Hz
卓越表現(xiàn)
Dimension Icon原子力顯微鏡已成為研究領(lǐng)域飽受歡迎的原子力顯微鏡型號之一,
使用Dimension Icon發(fā)表文章的數(shù)目比其他大樣品臺AFM更多。Dimension Icon 在原有的操作平臺上引入新技術(shù),展現(xiàn)出更高的性能和更快的測量速度。其軟件直觀的工作流程,使其操作過程比以往先進(jìn)的AFM 技術(shù)更加簡便。
現(xiàn)在,Dimension Icon用戶無需像以前一樣調(diào)整幾小時的專業(yè)參數(shù),即可立即獲得高質(zhì)量的測量結(jié)果。Dimension Icon 的每個方面,從完全開放式針尖樣品空間,到軟件參數(shù)預(yù)設(shè)置,都經(jīng)過特殊設(shè)計以求達(dá)到無障礙操作和驚人的AFM 易用性。
Dimension Icon用戶操作界面
應(yīng)用廣泛,表現(xiàn)出眾
Dimension Icon可高速捕捉多通道數(shù)據(jù),獲得更多高質(zhì)量的測量結(jié)果。結(jié)合Bruker多項AFM方面的技術(shù)和模式以及模式增強(qiáng)功能,Icon能夠提供卓越的儀器性能和出眾的測量表現(xiàn),能夠幫助您在納米研究、材料研究等領(lǐng)域里更上一層樓。
· 材料成像
ICON支持Bruker的PeakForce ONM?成像模式,研究者在獲得高分辨率形貌圖像的同時,還可以對樣品進(jìn)行納米定量力學(xué)性能測試,同時獲得高分辨成像。此技術(shù)適用范圍很廣(模量從1MPa到50GPa,粘附力從10pN到10μN),可以對不同類型的樣品進(jìn)行表征。
· 電學(xué)表征
可以以更高的靈敏度和更大的動態(tài)范圍實現(xiàn)電學(xué)表征。把這些研究與其他技術(shù)結(jié)合起來,比如Dark Lift,可在掃描電容顯微鏡,掃描擴(kuò)散電阻顯微鏡,扭轉(zhuǎn)共振隧道電流原子力顯微鏡中獲得真正的無假象數(shù)據(jù)
· 納米操縱
可實現(xiàn)在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。Icon的 XYZ閉環(huán)掃描器可實現(xiàn)無壓電蠕變效應(yīng)和超低噪音的精密探針定位,適用于任何納米操縱系統(tǒng)。
· 加熱和冷卻
使用AFM不同模式掃描的同時,可實現(xiàn)-35°C到 250°C的溫度控制和熱分析。使用熱探針可以在小于100nm的樣品局部加熱,達(dá)到400°C。
靈活的AFM平臺
Dimension Icon 展現(xiàn)出了的卓越的性能,穩(wěn)定性和靈活性,幾乎可以實現(xiàn)以前只有在特制系統(tǒng)中才能完成的所有測量。利用開放式平臺,大型或多元樣品支架和許多簡單易用的性能,把AFM 的強(qiáng)大功能完全展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前,為高質(zhì)量AFM成像和納米操作設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。
Dimension Icon 提供對性能沒有任何影響的靈活性平臺, 一個平臺,無限可能:
· 開放的平臺,能整合其他技術(shù)
· 開放的軟件和硬件,能輕松定制您的研究應(yīng)用 - "如果它不存在, 就發(fā)明它"
· 電池、有機(jī)太陽能等研究的完整解決方案
左圖:手套箱中的AFM-拉曼聯(lián)用。 右圖:光導(dǎo)AFM配件。
用AFM拓展您的應(yīng)用
憑借一整套出色的AFM成像模式,布魯克能為您每項研究提供適用的 AFM 技術(shù)。
基于核心成像模式(接觸模式和輕敲模式),布魯克提供的全套 AFM測試模式,允許用戶探測樣品的電學(xué)、磁性等豐富性能。布魯克的全新的峰值力輕敲技術(shù)作為一種新的核心成像模式,已被應(yīng)用到多種測量模式中,能同時提供形貌、電學(xué)和力學(xué)性能數(shù)據(jù)。
Dimension Icon數(shù)據(jù)示例:
左:輕敲 (Tapping) 模式中的syndiotactic
polypropylene閉環(huán)成像。掃描范圍: 5μm。
右:Syndiotactic polypropylene結(jié)晶動力學(xué)研究: 本體聚合物從室溫(左)快速加熱至160℃的完全熔化狀態(tài)。128°C 時,促進(jìn)了等溫結(jié)晶的平衡,并形成比原始層狀晶體更大的晶體。右圖顯示 101 分鐘的部分結(jié)晶圖像。
左:空氣中DNA的輕敲模式閉環(huán)圖像。掃描范圍: 2μm,掃描速率: 4.88Hz
中:HOPG上C36H74 烷的AFM圖像。清晰可見的片層結(jié)構(gòu)間距,與完全擴(kuò)展C36H74 鏈構(gòu)象下的長度間距 (±4.5nm)一致
右:使用TR-TUNA模式對金圖案化硅基底上分散的單壁碳形貌和導(dǎo)電性同時成像。掃描范圍: 1μm
左:壓電薄膜材料上Dimension lcon loge刻蝕圖案的壓電響應(yīng)力顯微鏡(PFM)振幅圖像。顯示Icon探針在刻蝕過程中的精確 XY 定位控制。掃描范圍: 20μm
中:HarmoniX 黏附力成像顯示毛細(xì)力相互作用
右:HOPG上C36H74 烷的閉環(huán)、高分辨率AFM 圖像。掃描范圍: 100nm
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