更新時(shí)間:2020-08-12
產(chǎn)品品牌:Bruker
產(chǎn)品型號:S4 TSTAR
S4 TStar — TXRF全反射X射線熒光光譜儀
數(shù)十年來,X 射線熒光(XRF)光譜法在多個(gè)行業(yè)中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進(jìn)行元素分析,檢測限值低于PPb 量級。TXRF 擴(kuò)展了XRF 的應(yīng)用范圍,可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。
優(yōu)異的樣品通用性
S4 TStar 是一種通用性很強(qiáng)的工具,可以分析不同反射載體上的多種類型的樣品。
ICP 只能分析完全溶解的液體樣品。
圖一:30 毫米石英片:對液體、固體和懸浮液進(jìn)行元素分析
圖二:2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科學(xué)研究
圖三:顯微鏡載玻片:臨床和生物學(xué)樣品,直接分析細(xì)胞培養(yǎng)物、涂片和切片
圖四:矩形載體:尺寸小于54 毫米,用于膜片、濾片、納米顆粒層
定制的反射介質(zhì)
行業(yè)應(yīng)用:
· 藥品
檢測活性藥物成分中的催化元素:液體或丸粒中的鉛含量小于0.1 / 0.5ppm
· 食品
糧農(nóng)組織和世衛(wèi)組織的食品標(biāo)準(zhǔn):大米中的砷含量小于10 / 40ppb。
· 環(huán)境監(jiān)測
環(huán)境監(jiān)測:地表水,廢水、污泥和核廢液中的污染物含量小于1 / 10ppb。
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