更新時(shí)間：2023-03-28
產(chǎn)品品牌：
產(chǎn)品型號(hào)：VIT系列
硅片表面形貌測(cè)量VIT系列
NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile
品/硅片表面形貌測(cè)量/VIT系列/VITSA-10275853113.jpg)
品/硅片表面形貌測(cè)量/VIT系列/VITC2C-10281860920.jpg)
3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌測(cè)量
Film Stress薄膜應(yīng)力量測(cè)儀
FEOL Electrical Characterization 電學(xué)特性
Thin wafer metrology 晶圓測(cè)量學(xué)
Film Adhesion漆膜附著力測(cè)試NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
-TSV profile (depth, bottom CD, tilt, SWA)
-Residue Detection
-RST
-Copper Nail Height
-Bump Height and Cu pillar height
-Edge trim profile
電話(huà)：86-021-37018108
傳真：86-021-57656381
郵箱：info@boyuesh.com
地址：上海市松江區(qū)莘磚公路518號(hào)松江高科技園區(qū)28幢301室
