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X射線鍍層測(cè)厚儀

更新時(shí)間:2021-03-02

產(chǎn)品品牌:Bruker

產(chǎn)品型號(hào):M1 ORA

產(chǎn)品描述:M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺(tái)式X射線熒光光譜儀(μ-XRF)

M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺(tái)式X射線鍍層測(cè)厚儀,結(jié)構(gòu)緊湊、占用空間小。

M1 ORA能準(zhǔn)確測(cè)定珠寶類合金的元素組成,分析元素范圍:原子序數(shù)22號(hào)(鈦)以上的元素。
上照式光管,光板尺寸小至0.3mm,可以對(duì)復(fù)雜式樣的樣品進(jìn)行非接觸、非破壞性的分析,數(shù)分鐘內(nèi)就可以得到結(jié)果。

樣品尺寸大可達(dá)100×100×100mm,無需處理,直接放在樣品臺(tái)上檢測(cè),采用光學(xué)顯微鏡進(jìn)行準(zhǔn)確定位。

采用大感應(yīng)面積的正比計(jì)數(shù)器接收樣品發(fā)出的熒光信號(hào)。采集的信號(hào)越多,分析結(jié)果越準(zhǔn)確??梢詸z測(cè)含量在0.005的元素

基于標(biāo)樣模型或無標(biāo)樣模型,可以鑒別和定量分析樣品中的元素。

珠寶、黃金、貴金屬分析

X射線熒光光譜儀是非基礎(chǔ)和非破壞性分析,同時(shí)能夠得到高準(zhǔn)確度測(cè)試結(jié)果的分析方法

由于珠寶首飾件通常都小,又有些是采用不同貴金屬組合,X射線熒光光譜儀分析過程能采用儀器內(nèi)的準(zhǔn)直器將激發(fā)的X射線集中于一小點(diǎn)。

行業(yè)應(yīng)用:

X射線熒光光譜儀測(cè)量可廣泛適用于大量的黃金合金系列,可測(cè)量材料包括金、銀、銅、鈀、鉑、銠等貴金屬元素

黃金成分范圍0.35(8克拉/K)~(24克拉/K)

適用于:白金、黃金、鉑合金、銀合金

 

 

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